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簡要描述:XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀采用全新的光路設(shè)計和光學(xué)部件,大幅度提高各元素特征X射線強(qiáng)度(CPS),從而使儀器分析精度得到突破性提高,并且縮短了樣品測定時間。
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Product Category詳細(xì)介紹
XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀
XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀特點:
* 采用全新的光路設(shè)計和光學(xué)部件,大幅度提高各元素特征X射線強(qiáng)度(CPS),從而使儀器分析精度得到突破性提高,并且縮短了樣品測定時間。
* 對影響儀器穩(wěn)定性的主要環(huán)節(jié)做了實質(zhì)性改進(jìn),從而為顯著提高儀器的穩(wěn)定性創(chuàng)造了條件。
* 對影響儀器可靠性的主要環(huán)節(jié)做了全新設(shè)計,顯著提高了儀器長期連續(xù)工作的可靠性。
* 元素譜峰束集電路采用工業(yè)控制機(jī)內(nèi)插式高速MCA卡。
* 本儀器為多道同定型WDXRF光譜儀,每個元素一個通道,多數(shù)部件可以互換,穩(wěn)定分析,速度快,真空室小,故障率低。
* 分析元素多(Na~U),分析含量范圍廣ppm~100%;
* 樣品處理相對簡單;
* 試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等);
* 可快速分析粉末壓片,玻璃熔片和塊狀物料;非破損分析;
* 采用多路數(shù)字MCA實時檢測,不僅便于儀器調(diào)試和故障診斷,并可進(jìn)一步提 高儀器的分析精度和穩(wěn)定性。
在水泥行業(yè)應(yīng)用:
XF-8100非常適合在大、中、小型水泥廠(單、雙窯)做質(zhì)量過程控制使用。可用于分析原料(如石灰石、沙土、礬土、菱鎂礦和其他礦物)中主量和次量氧化物的分析;生料、熟料和水泥中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常規(guī)元素的測定。
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